前言：影像測(cè)量?jī)x、三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是制造業(yè)發(fā)展的“得力助手”，不斷的為制造業(yè)發(fā)展帶來經(jīng)濟(jì)價(jià)值。

   隨著科學(xué)的進(jìn)步與時(shí)代的發(fā)展，生產(chǎn)零件的品質(zhì)也是越來越高。之前我們檢驗(yàn)一個(gè)零件的長(zhǎng)，寬，高，采用的是傳統(tǒng)的卡尺 、千分尺或者是螺旋測(cè)微器等接觸式測(cè)量，測(cè)量位置度等形位公差都是測(cè)量出距離，然后按照公式去計(jì)算出來，這樣的一個(gè)檢測(cè)過程，不僅繁瑣，而且達(dá)到的精度不過是毫米及多達(dá)到微米級(jí)的樣子。

   在今天這樣一個(gè)智能的時(shí)代，我們的測(cè)量行業(yè)也是有著翻天覆地的變化，人們追求產(chǎn)品的精度也是越來越高，我們通過科學(xué)的圖像分析計(jì)算法可讓我們的精度達(dá)到微米甚至是納米，從卡尺——投影儀——手動(dòng)影像測(cè)量?jī)x——半自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x——全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x，改變的不僅僅是機(jī)器的樣子，而是更智能、更高精度、更多樣的測(cè)量方法不斷革新。除了有我們非常常規(guī)的三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x和高度測(cè)量?jī)x，下面我介紹的幾種也是能夠?qū)崿F(xiàn)測(cè)量高度的方法哦。

第一種方法

接觸式測(cè)量，對(duì)于比較粗糙的，測(cè)量精度是毫米級(jí)別的零件并且不需要全尺寸檢測(cè)只需抽檢，我們可以采取傳統(tǒng)的測(cè)量?jī)x器游標(biāo)卡尺直接測(cè)量高度。這樣可以快速測(cè)量，雖測(cè)量精度不高，卻能夠滿足測(cè)量需求。

第二種方法

接觸式測(cè)量，對(duì)于測(cè)量的精度非常的高的零件，我們可以選擇一臺(tái)可增加探針的影像測(cè)量?jī)x，這就相當(dāng)于一臺(tái)小的三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x，也就是我們說的復(fù)合式影像測(cè)量?jī)x，在需要測(cè)量高度的地方，用探針取元素（點(diǎn)或者面），然后在軟件內(nèi)計(jì)算高度。

第三種方法：

非接觸式測(cè)量，選擇一臺(tái)Z軸自動(dòng)的影像測(cè)量?jī)x，然后運(yùn)用影像測(cè)量?jī)x軟件中的Z軸自動(dòng)對(duì)焦功能，測(cè)量得出高度，這樣測(cè)量可以減少人為誤差，不論是誰來測(cè)量，都可以測(cè)量出同樣的數(shù)值，也是非常簡(jiǎn)單方便的。

使用影像測(cè)量?jī)x測(cè)量高度的方式有很多種，不論是選擇接觸式測(cè)量高度，還是選擇非接觸式測(cè)量高度，主要看的是我們是選擇怎樣的測(cè)量?jī)x器。高精度儀器將是未來發(fā)展的一個(gè)重要趨勢(shì)。